測(cè)試參數(shù)：電壓, 電阻率, 方阻, 電阻
四探針電阻率測(cè)試儀，可測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率及擴(kuò)散層的薄層電阻，適用于半導(dǎo)體和太陽(yáng)能材料測(cè)試的要求，也可對(duì)分立電阻進(jìn)行測(cè)量。
專用四端探針測(cè)試線！
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